在半导体技术快速进步的行业中,静态信号的精确分析长期以来一直是失败分析工程师的挑战,由高级失败分析师Amrutha Sampath领导的创新工作在解决静态信号检测这一关键方面取得了重大进展,为全球失败分析社区提供了宝贵的优势。 硬件安全中的静态信号检测的创新方法 用于静态信号检测的激光逻辑状态映射(LLSM)的引入标志着一个显著的进步,具有深远的影响。 最初在 ISTFA 2014 展示用于识别内存位值,LLSM在其应用方面是有限的。 由于设备集成越来越复杂的保护机制,包括硬件安全模块(HSM),复杂的无同步状态机器和安全启动流程,传统的分析方法可能缺乏检测和分析静态信号的能力,这对于彻底的安全评估和故障分析至关重要。 技术领域的远见解决问题 通过将LLSM扩展到其原始应用之外,她解决了半导体故障分析的显著局限性,从而通过创新的基于激光技术提高了静态信号诊断的准确性。 在安全设备面临操作故障或在安全启动序列中变得不响应的场景中,识别是否存在缺陷或安全机制是否对设计错误作出反应尤其具有挑战性。 基于激光的先驱分析技术 阿姆鲁塔的LLSM技术的实施涉及一种方法的方法,在相关电源中引入小电压调制,随后在调制频率下进行激光电压成像(LVI),以确定目标信号的逻辑状态。 这种方法为处理安全设备的故障分析工程师提供了强大的新能力,允许对以前难以观察的关键信号和状态进行调查。与其他光学故障隔离方法(如光子排放显微镜(PEM)和传统激光电压试验(LVP)一起,该技术为半导体行业提供了一个更全面的诊断工具包。 导航安全性和可分析性之间的平衡 Amrutha的工作强调了硬件安全要求和可分析的需求之间的固有紧张关系,通过她最近在ISTFA 2024上发表的演讲,她解决了分析使用故障隔离技术安全知识产权的独特挑战,并评估了这些方法产生的潜在安全威胁。 她的发现倡导失败分析和安全团队之间的协作方法,强调评估现有设计的优势和弱点,以实现互利的结果和平衡的解决方案的重要性。 认可和更广泛的影响 Amrutha与LLSM的合作,在半导体故障分析方面取得了重大进展,她的见解在与全球团队的知识会议中得到分享,并在ISTFA 2024上发表了一篇论文,强调了半导体技术的可分析性和安全性之间的平衡。 未来影响 这一成就代表了失败分析方法的关键进展,为工程师提供增强的诊断准确性能力,因为半导体设计变得更加复杂。Amrutha的专业知识结合了她从德克萨斯A&M大学和国家技术研究所Trichy的电气工程教育,使她能够有效地实施创新技术解决方案。 展望未来,她与LLSM的合作示范了如何创造性方法可以解决持续的技术挑战,并为半导体行业增加价值。 阿姆鲁塔·萨帕斯 Amrutha Sampath是半导体故障分析的杰出人物,专注于集成电路的诊断方法。居住在奥斯汀的动态技术生态系统中,她有效地利用德克萨斯A&M大学和受尊敬的国家技术研究所Trichy的先进教育,探索半导体诊断的新边界。她的职业生涯以有效地将理论研究与实际应用相结合的显著技术进步为特征,这导致了现在在各种设施中使用的可靠性测试协议的改进。Amrutha的贡献已在国际技术论坛中得到认可,她的演讲因其洞察力深度和创新视角而不断受到认可。除了她的技术追求之外,Amrutha还倡导在行业内分享知识和指导。她积极参与跨功能团队,并参与行业工作组,促进更大的反射和 
 
 这个故事是由Echospire Media在HackerNoon的商业博客计划下发布的。 这个故事是由Echospire Media在HackerNoon的商业博客计划下发布的。 这里

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推进半导体故障分析:Amrutha Sampath的贡献

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