En una industria caracterizada por el rápido avance de la tecnología de semiconductores, el análisis preciso de señales estáticas ha sido durante mucho tiempo un desafío para los ingenieros de análisis de fallos.El trabajo innovador liderado por el analista senior de fallos Amrutha Sampath ha dado avances significativos en abordar este aspecto crítico de la detección de señales estáticas, ofreciendo beneficios valiosos a la comunidad global de análisis de fallos. Enfoques innovadores para la detección de señales estáticas en la seguridad de hardware La introducción de Laser Logic State Mapping (LLSM) para la detección de señales estáticas marca un avance notable, con implicaciones de largo alcance. Inicialmente presentado en ISTFA 2014 para identificar los valores de bit de memoria, LLSM fue limitado en su aplicación. Sin embargo, Amrutha Sampath y su equipo expandieron con éxito su uso en la detección de señales estáticas, abordando una brecha crítica en las técnicas analíticas basadas en láser. A medida que los dispositivos integran mecanismos de protección cada vez más sofisticados, incluidos los módulos de seguridad de hardware (HSM), las complejas máquinas de estado asíncrono y los procesos de arranque seguro, los enfoques de análisis convencionales pueden fallar en su capacidad para detectar y analizar señales estáticas, que son vitales para la evaluación de seguridad completa y el análisis de fallos. Solución de problemas visionarios en campos técnicos Al extender el LLSM más allá de su aplicación original, ha abordado una limitación significativa en el análisis de fallas de semiconductores, mejorando así la precisión del diagnóstico de señales estáticas a través de técnicas innovadoras basadas en láser. En los escenarios en los que los dispositivos seguros se enfrentan a fallas operativas o se vuelven irresponsables durante las secuencias de arranque seguras, es particularmente difícil distinguir si existe un defecto o si un mecanismo de seguridad ha reaccionado a un error de diseño.La aplicación innovadora de LLSM de Amrutha ha demostrado que puede leer de manera efectiva los estados estáticos en flip-flops de puerta única, células de lógica combinatoria y señales de control críticas, ofreciendo valiosas ideas sobre dominios anteriormente inaccesibles. Técnicas pioneras de análisis basado en láser La implementación de la técnica LLSM por parte de Amrutha implica un enfoque metodológico en el que se introduce una modulación de pequeña tensión en el suministro de energía relevante, seguido por la Imagen de Tensión láser (LVI) en la frecuencia de modulación para determinar el estado lógico de las señales dirigidas. Esta metodología proporciona una nueva capacidad robusta para los ingenieros de análisis de fallos que tratan con dispositivos seguros, permitiendo la investigación de señales y estados críticos que anteriormente eran difíciles de observar. En conjunto con otros métodos de aislamiento de fallos ópticos, como la microscopía de emisión de fotones (PEM) y la prueba de voltaje láser tradicional (LVP), esta técnica contribuye a un conjunto de herramientas de diagnóstico más completo para la industria de semiconductores. Navegar por el equilibrio entre seguridad y analizabilidad El trabajo de Amrutha hace hincapié en la tensión inherente entre las exigencias de seguridad de hardware y la necesidad de analizabilidad.A través de su reciente presentación en ISTFA 2024, ha abordado los desafíos únicos asociados con el análisis de la propiedad intelectual segura utilizando técnicas de aislamiento de fallos y la evaluación de las amenazas de seguridad potenciales planteadas por estos mismos métodos. Sus hallazgos abogan por un enfoque colaborativo entre el análisis de fallos y los equipos de seguridad, destacando la importancia de evaluar tanto los puntos fuertes como los puntos débiles de los diseños existentes para lograr resultados mutuamente beneficiosos y soluciones equilibradas. Reconocimiento y impacto más amplio El trabajo de Amrutha con LLSM ha llevado a avances significativos en el análisis de fallas de semiconductores. sus conocimientos se han compartido en sesiones de conocimiento con equipos globales y se han documentado en un artículo en ISTFA 2024, enfatizando el equilibrio entre la analizabilidad y la seguridad en la tecnología de semiconductores. futuras implicaciones Este logro representa un avance clave en las metodologías de análisis de fallos, proporcionando a los ingenieros capacidades mejoradas para la precisión diagnóstica a medida que los diseños de semiconductores se vuelven más complejos. La experiencia de Amrutha combina su educación en ingeniería eléctrica de la Universidad de Texas A&M y el Instituto Nacional de Tecnología, Trichy, lo que le permite implementar eficazmente soluciones técnicas innovadoras. Mirando hacia adelante, su trabajo con LLSM ilustra cómo los enfoques creativos pueden abordar los desafíos técnicos en curso y agregar valor a la industria de semiconductores. A medida que las tecnologías evolucionan, las contribuciones de Amrutha pueden servir de modelo para futuros avances en el análisis de fallos. Más sobre Amrutha Sampath Amrutha Sampath es una figura notable en el análisis de fallas de semiconductores, centrándose en metodologías de diagnóstico para circuitos integrados. Residiendo en el ecosistema tecnológico dinámico de Austin, utiliza eficazmente su educación avanzada de la Universidad de Texas A&M y el respetado Instituto Nacional de Tecnología, Trichy, para explorar nuevas fronteras en el diagnóstico de semiconductores. Su carrera se ha caracterizado por avances técnicos significativos que integran eficazmente la investigación teórica con aplicaciones prácticas, lo que lleva al refinamiento de los protocolos de pruebas de fiabilidad ahora empleados en varias instalaciones. Las contribuciones de Amrutha han sido reconocidas en foros técnicos internacionales, donde sus presentaciones son consistentemente reconocidas por su profundidad de visión e innovaciones. Además de sus Esta historia fue distribuida como un lanzamiento por Echospire Media bajo HackerNoon's Business Blogging Program. Esta historia fue distribuida como un lanzamiento por Echospire Media bajo HackerNoon's Business Blogging Program. Aquí
