Yarım iletken teknolojisinin hızlı ilerlemesiyle karakterize edilen bir sektörde, statik sinyallerin hassas analizi uzun zamandır başarısızlık analizi mühendisleri için bir meydan okuma haline gelmiştir.Yüksek başarısızlık analizi uzmanı Amrutha Sampath tarafından yürütülen yenilikçi çalışma, global başarısızlık analizi topluluğuna değerli faydalar sunarak, statik sinyal algılamasının bu kritik yönünü ele almada önemli adımlar atmıştır. Statik sinyal algılama için yenilikçi yaklaşımlar donanım güvenliğinde Statik sinyal algılama için Laser Logic State Mapping (LLSM) tanıtımı, geniş kapsamlı etkileri olan önemli bir ilerlemeye işaret ediyor. ISTFA 2014'te bellek bit değerlerini tanımlamak için başlangıçta sunulan LLSM, uygulamasında sınırlıydı. Bununla birlikte, Amrutha Sampath ve ekibi, lazer tabanlı analitik tekniklerde kritik bir boşluğu gidererek, statik sinyal algılamasında kullanımlarını başarıyla genişletti. Cihazlar, donanım güvenliği modülleri (HSM), karmaşık asinkron durum makineleri ve güvenli başlangıç süreçleri dahil olmak üzere giderek daha sofistike koruma mekanizmalarını entegre ederken, geleneksel analiz yaklaşımları, kapsamlı güvenlik değerlendirmesi ve başarısızlık analizi için hayati öneme sahip statik sinyalleri algılama ve analiz etme yeteneğinden yoksun kalabilir. Teknik alanlarda vizyoner problem çözme Bu başarının merkezinde, Amrutha'nın problem çözme konusundaki anlayışlı ve stratejik yaklaşımı olmuştur. LLSM'yi orijinal uygulamasının ötesinde genişleterek, yarı iletken başarısızlık analizinde önemli bir kısıtlama ele aldı, böylece yenilikçi lazer tabanlı teknikler aracılığıyla statik sinyaller için teşhislerin doğruluğunu arttırdı. Güvenli aygıtların operasyonel başarısızlıklarla karşılaştığı veya güvenli başlangıç dizileri sırasında yanıt vermediği senaryolarda, bir arızanın olup olmadığını veya bir güvenlik mekanizmasının bir tasarım hatasına tepki verdiğini tespit etmek özellikle zor. Lazer tabanlı analiz teknikleri Amrutha'nın LLSM tekniğinin uygulanması, ilgili güç kaynağına küçük bir voltaj modülasyonu, modülasyon frekansında Lazer Voltaj Görüntüleme (LVI) tarafından takip edilen, hedeflenen sinyallerin mantıksal durumunu belirlemek için metodolojik bir yaklaşım içerir. Bu metodoloji, güvenli cihazlarla uğraşan arıza analiz mühendisleri için güçlü bir yeni yetenek sunar, daha önce gözlemlemek zor olan kritik sinyalleri ve durumları incelemeye olanak sağlar. Photon Emission Microscopy (PEM) ve geleneksel Lazer Voltage Probing (LVP) gibi diğer optik arıza yalıtım yöntemleri ile birlikte, bu teknik yarı iletken endüstrisi için daha kapsamlı bir teşhis aracı kitine katkıda bulunur. Güvenlik ve analiz edilebilirlik arasındaki dengeyi gezinmek Amrutha’nın çalışmaları, donanım güvenliği gereksinimleri ile analiz edilebilirlik gereksinimleri arasındaki içsel gerginliği vurgulamaktadır. ISTFA 2024’te yaptığı son sunumla, güvenli entelektüel mülkiyetin arızalanma tekniklerini kullanarak analiz edilmesi ve bu yöntemlerin oluşturduğu potansiyel güvenlik tehditlerini değerlendirmesi ile ilişkili benzersiz zorlukları ele aldı. Sonuçları, başarısızlık analizi ve güvenlik ekipleri arasındaki işbirliği yaklaşımını savunuyor ve karşılıklı yararlı sonuçlar ve dengeli çözümler elde etmek için mevcut tasarımların hem güçlü hem de zayıf yönlerini değerlendirme önemini vurguluyor. Tanıma ve daha geniş etkisi Amrutha'nın LLSM ile yaptığı çalışmalar, yarı iletken başarısızlık analizinde önemli ilerlemelere yol açtı.Bilgi toplantılarında küresel ekiplerle paylaşıldı ve ISTFA 2024'te yayınlanan bir makalede, yarı iletken teknolojisinde analiz edilebilirlik ve güvenlik arasındaki dengeyi vurgulamıştır.Bu adım, 2025'te küresel başarısızlık analiz laboratuvarları işbirliği için Domain Chair olarak atamasına katkıda bulunmuştur. Gelecekteki Etkileri Bu başarı, yarı iletken tasarımları daha karmaşık hale geldiğinde, mühendislere teşhis doğruluğu için geliştirilmiş yetenekler sunarak, başarısızlık analiz metodolojilerinde önemli bir ilerleme temsil eder. Amrutha'nın uzmanlığı, Texas A&M Üniversitesi'nden Elektrik Mühendisliği alanında eğitimini ve Trichy Ulusal Teknoloji Enstitüsü'nün etkin bir şekilde yenilikçi teknik çözümler uygulanmasına olanak sağlar. LLSM ile çalışması, yarı iletken endüstrisine devam eden teknik zorlukları nasıl ele alabileceğini ve yarı iletken endüstrisine değer katabileceğini göstermektedir. Teknolojiler geliştikçe, Amrutha'nın katkıları, başarısızlık analizinde gelecekteki gelişmeler için bir model olarak hizmet edebilir. Amrutha Sampath Hakkında Amrutha Sampath, entegre devre için teşhis yöntemlerine odaklanan yarı iletken başarısızlık analizinde önemli bir figür. Austin'in dinamik teknolojik ekosisteminde ikamet eden Amrutha Sampath, Texas A&M Üniversitesi ve saygın Ulusal Teknoloji Enstitüsü Trichy'den ileri eğitimini, yarı iletken teşhisinde yeni sınırları keşfetmek için etkili bir şekilde kullanıyor. Kariyerinin, teorik araştırmayı pratik uygulamalarla etkili bir şekilde entegre eden önemli teknik gelişmelerle karakterize edildiği, şimdi çeşitli tesislerde kullanılan güvenilirlik test protokollerinin geliştirilmesine yol açan. Amrutha'nın katkıları uluslararası teknik forumlarda tanınmıştır, sunumları sürekli olarak derinlikleri ve yenilikçi perspektifleri için tanınmaktadır. Teknik hedeflerine ek olarak, Amrutha endüstr Bu hikaye, HackerNoon’un Business Blogging Programı kapsamında Echospire Media tarafından bir yayın olarak dağıtıldı. Bu hikaye, HackerNoon’un Business Blogging Programı kapsamında Echospire Media tarafından bir yayın olarak dağıtıldı. burda
